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机译:从基于表面的透射率测量中检索云的光学厚度和有效半径的光谱方法
P. J. McBride; K. S. Schmidt; P. Pilewskie; A. S. Kittelman; D. E. Wolfe;
机译:从基于表面的透射率测量中获取云的光学厚度和有效半径的光谱方法
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